测量管脚电容

工具为lcr电桥。

两块互不连通的金属，之间填充有绝缘介质，电子元器件回收晶振，就构成了一个电容。我们在电路中常说的分布电容就是这个形成机理。

现在的器件里，半导体的特性，都会产生分布电容，但是随着时间的推移、随着器件日久年深的工作，两金属间的绝缘特性会因为电压的持续加压或环境影响而导致变差，从而影响到分布电容的大小。据此容值判定器件的状态很有参考价值。

一个批次里，抽取多个器件，旧电子元器件回收，随意随机抽取2个管脚，测试其之间的电容特性，将抽取的多个器件相同二管脚的电容测量结果进行对比，不同器件之间±1nf的偏差波动可以理解，差得多了就要小心了。如果一个批次里测出的结果很离散，都在±7～8nf甚至更多之间离散分布，那就肯定是不对劲了。

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